Formatage de la date et de l'heure, étiquettes pour les points, séparateurs verticaux, rupture de la ligne de connexion du graphique pour la séparation visuelle des séries de points, blocs de formules pour calculer les valeurs σ (sigma) et σ (sigma) avec indices de reproductibilité Cp et Cpk sur les graphiques des cartes de contrôle Shewhart

Vous pouvez afficher/masquer les étiquettes de point, les lignes de séparation verticales et les sauts de ligne pour les séries de points sur les tracés de carte de contrôle à partir de champs de valeur (dimensions) ou d'un nombre illimité de champs source de variation de facteur (colonnes). L'activation/désactivation de la fonction s'effectue en cliquant avec la souris sur le bouton interrupteur dans le panneau de commande correspondant.

Cette fonction est incluse dans la liste des paramètres enregistrés dans les propriétés du graphique lorsqu'elle est enregistrée dans la liste pour mises à jour automatiques des graphiques avec un délai d'attente sélectionné ou pour les ouvrir rapidement avec des données mises à jour.

En utilisant les fonctions d'étiquettes de points et de séparateurs de zones de facteurs verticaux, par exemple, pour seulement 18 colonnes de facteurs, vous pouvez obtenir 18x18-18=306 croisez des variantes uniques d'étiquettes pour les points de la carte de contrôle.

Figure 1. Panneau de boutons principal, bouton permettant de passer à la fonction de contrôle pour formater le champ [Date et heure] sur les cartes de contrôle Shewhart. Version du logiciel (3.30).

Figure 2. Le panneau de boutons de la fonction de contrôle pour le formatage du champ [Date et heure] sur les cartes de contrôle Shewhart est activé. Une liste déroulante s'ouvre pour sélectionner le formatage du champ de date et d'heure.

Lors de l'importation de données dans notre programme, par défaut le champ [Date et heure] est formaté au format de la deuxième ligne de la liste déroulante ['DD:MM:YYYY hh:mm'] pour l'interface russe et [' MM:JJ:AAAA hh:mm' ] pour les anglophones. Si vos données ont un format plus détaillé, vous pouvez les sélectionner dans la liste déroulante de ce panneau de contrôle de formatage de date et d'heure.

Figure 3. Panneau de boutons permettant de contrôler le formatage du champ [Date et heure] sur les cartes de contrôle Shewhart. Dans la liste déroulante, un format de champ de date et d'heure différent est sélectionné.

Figure 4. Panneau de boutons principal, bouton de gestion des étiquettes de points sur les cartes de contrôle Shewhart.

Figure 5. Panneau de contrôle pour les étiquettes à points [rouges] sur les cartes de contrôle Shewhart activées. La colonne du tableau de données source [Date et heure] est sélectionnée pour les étiquettes.

Figure 6. Le panneau de gestion des étiquettes de tous les points des cartes de contrôle Shewhart est activé. La colonne du tableau de données source (Valeurs) est sélectionnée pour les étiquettes.

Figure 7. Le panneau de contrôle avec des lignes pointillées verticales divisant les séries de points par zones d'action des facteurs du type sélectionné est activé. La colonne du tableau de données sources (Matières premières) est sélectionnée comme ce type de facteur.

La liste déroulante des facteurs dans le panneau de commande avec des lignes pointillées verticales divisant une série de points (Figure 4) est constituée uniquement de colonnes comportant des rangées de conditions conditionnellement constantes (valeurs répétitives). Et les valeurs vides des facteurs (conditions) sont remplacées par le texte « Facteur non spécifié »

Ci-dessous se trouve la fonction de rupture de la ligne de liaison permettant de séparer visuellement une série de points en fonction des zones d'action des sources de variations [Facteurs], affichées sous forme de lignes pointillées verticales, ce qui facilite grandement l'interprétation du contrôle Shewhart. graphiques. Par exemple, lors de l'étude du parallélisme, de la position et de la cohérence de séries individuelles de sous-groupes. Voir le cas d'utilisation dans l'article de Donald Wheeler : Évaluation du processus de mesure (EMP) à l'aide de méthodes graphiques simples .

Figure 8. Le panneau de contrôle des sauts de ligne du graphique par zones d'influence des facteurs du type sélectionné est activé. La colonne du tableau de données sources (Matières premières) est sélectionnée comme ce type de facteur.

Vous pouvez vous déplacer dans les listes déroulantes (colonnes) de facteurs dans les panneaux de contrôle correspondants en sélectionnant dans la liste déroulante ou en faisant défiler séquentiellement avec le rouleau de la souris dans la zone de liste déroulante.

Nous recommandons d'utiliser les champs Sources de variation [Facteurs] pour enregistrer les conditions dans lesquelles la caractéristique contrôlée du produit ou du service a été produite et la valeur analysée a été obtenue. Par exemple, un outil (dans la colonne Outil), un lot de matières premières (dans la colonne Matières premières), le nom complet de l'opérateur (dans la colonne Opérateur), la machine (dans la colonne Équipement), les réglages de la machine (dans la colonne colonne Paramètres de l'équipement), outil de mesure (dans la colonne Outil de mesure), contrôleur (dans la colonne Contrôleur), etc. pour enregistrer toutes les conditions externes conditionnellement constantes et variables.

Tout cela sera nécessaire pour identifier les variations identifiées par la carte de contrôle, dont la source est les causes particulières des changements de processus qui peuvent et doivent être éliminés au niveau de l'atelier.

Et vice versa, si les signes de la présence de causes particulières dans les variations observées ne sont pas identifiés par la carte de contrôle, cela permettra d'attribuer en toute confiance de telles sources de variations observées aux causes générales de variabilité (causes systémiques), qui sont dans le domaine d'activité de la direction de l'entreprise, et non du personnel du magasin.

Cette fonction permet de rechercher visuellement la relation de divers facteurs avec des signes identifiés de l'action de causes particulières de variations aux points surlignés en rouge conformément à l'application appliquée par l'utilisateur. Critères zonaux de Western Electric .

L'utilisateur peut afficher ou masquer le bloc avec des formules pour calculer les limites de contrôle. Par défaut, le bloc contenant les formules de calcul des limites de contrôle est masqué.

Figure 9. Panneau de commande principal. Le bouton [Afficher les blocs de formules et de valeurs] est mis en surbrillance.

Figure 10. Panneau de contrôle permettant de démontrer et de masquer les blocs de formule pour calculer les limites de la carte de contrôle XmR de Shewhart (valeurs individuelles). Le bloc de formule est masqué.

Figure 11. Panneau de contrôle permettant de démontrer et de masquer les blocs de formule pour calculer les limites de la carte de contrôle XmR de Shewhart (valeurs individuelles). Le bloc de formule est affiché dans la zone graphique.

Figure 12. Panneau de contrôle permettant de démontrer et de masquer les blocs de formule pour calculer les limites de la carte de contrôle XbarR de Shewhart (moyennes et plages de sous-groupes). Le bloc de formule est affiché dans la zone graphique.

Annotations avec numéros de sous-groupes pour les points sélectionnés par l'utilisateur

Figure 13. L'ouverture d'une annotation avec un numéro de sous-groupe pour un point sélectionné par l'utilisateur se fait en cliquant sur le bouton gauche de la souris tout en plaçant le curseur sur le point. Le masquage d'une annotation se fait en cliquant sur le bouton droit de la souris tout en plaçant le curseur de la souris sur la zone d'annotation (et non sur un point).

Indices de reproductibilité Cp, Cpk

Les indices de reproductibilité Cp (espace vital du procédé par rapport au champ de tolérance), Cpk (centrage du procédé dans le champ de tolérance) sont calculés automatiquement pour la construction initiale de la carte de contrôle. De plus, lors de la modification des limites de contrôle à l'aide des fonctions fixation des limites de contrôle , limites de contrôle pour des lots individuels , suppression de points - les indices de reproductibilité Cp, Cpk ne sont pas recalculés.

A partir de la version v.3.23, les valeurs des indices de reproductibilité calculés Cp, Cpk et Sigma du processus [σ] sont affichées dans un bloc de texte séparé au centre du canevas avec des graphiques en cliquant sur le bouton [Sigma, Cp , Cpk] sous les graphiques.

Figure 14. Si un processus présente un état statistiquement incontrôlé, un bouton d'avertissement « Attention ! s'affiche à gauche du bouton [Sigma, Cp, Cpk].

Figure 15. Bloc de texte avec le processus calculé Sigma [σ] et les indices de reproductibilité Cp, Cpk, qui est masqué en cliquant à nouveau sur le bouton [Sigma, Cp, Cpk].

Attention! Si le processus est dans un état statistiquement incontrôlable, les indices (Cp, Cpk) n'ont aucun sens ; un tel processus est, par définition, irréproductible.

Important! Les indices de reproductibilité présentent de sérieux inconvénients par rapport aux méthodes graphiques simples (carte de contrôle et histogramme de distribution des valeurs avec limites de tolérance). En dehors de ce qui précède, les indices de reproductibilité doivent être utilisés par paires, sinon vous serez facilement induit en erreur par chacun d'eux.

L'indice d'espace vital (Cp) ne précise pas où se situe le processus par rapport aux limites de tolérance, à l'intérieur ou même entièrement à l'extérieur des limites de tolérance. L'indice de centrage (Cpk) ne donne pas une idée du côté du déplacement d'un processus stable par rapport au centre du champ de tolérance, et cache donc des informations importantes pour l'amélioration du processus, et n'a aucun sens si la valeur ne coïncide pas avec le centre du champ de tolérance (champs de tolérance asymétriques).

Pour comprendre la méthode de calcul des indices de reproductibilité Cp, Cpk et leurs inconvénients, lire l'article : Suffit-il d'analyser les histogrammes de distribution et les indices de reproductibilité Cp, Cpk ? Commencez votre analyse en créant des cartes de contrôle Shewhart !

Figure 16. Une fenêtre de message d'avertissement concernant l'application d'indices de reproductibilité à un processus instable s'est ouverte, qui peut être ouverte en cliquant avec le bouton gauche sur le bouton « Attention ! bouton. à gauche du bouton [Sigma, Cp, Cpk].

Légende

Le contenu des symboles dépend du contexte du canevas graphique et est affiché dans des blocs de texte séparés en cliquant sur le bouton gauche de la souris. Fermeture en appuyant à nouveau sur le même bouton.

Figure 17. Blocs de texte avec symboles.

Vidéo 1. Légendes des points, séparateurs verticaux, rupture de la ligne de liaison du graphique pour séparation visuelle d'une série de points, blocs de formules, indices de reproductibilité Cp et Cpk sur les graphiques des cartes de contrôle Shewhart. Logiciel Cartes de contrôle Shewhart PRO-Analyst +AI